正式開放第三代半導體代測服務
堉宸科技除了半導體設備，也提供氮化鎵等第三代半導體元件動態及可靠度代測服務
動態量測基礎方案
◆ 單次測試DUT數量
1 DUT/ per Test
◆ 靜態測試項目
DC Vth/Ron、CV Curve、DC BVdss
◆ 動態測試項目
Dynamic Rdson、Vth、Vsd
◆ 量測溫度
- 室溫(Room Temp.)、高溫(High Temp.)
- 可調整範圍: 25°C - 175°C
◆ 依照使用者元件特性設計彈性量測條件
溫度、電壓、電流、頻率、Duty、Vgs
動態量測進階方案
◆ 單次測試DUT數量
1 DUT/ per Test
◆ 靜態測試項目
同方案A, HTOL前、後各一次靜態量測
◆ 動態測試項目
- 同方案A, HTOL前後各一次室溫及高溫動態量測
- 提供動態可靠度的HTOL分析
◆ 量測溫度
- 室溫(Room Temp.)、高溫(High Temp.)
- 可調整範圍: 25°C - 175°C
◆ HTOL 量測時間與停止條件
- 量測時間以12小時為最小計價單位
- 停止條件設定：特定時間或特定動態Rdson阻值
◆ 依照使用者元件特性設計彈性量測條件
溫度、電壓、電流、頻率、Duty、Vgs、HTOL時間
多元件可靠度
動態量測基礎方案
◆ 單次測試DUT數量
10 DUT/ per Test
◆ 靜態測試項目
同方案A, HTOL前、後各一次靜態量測
◆ 動態測試項目
- 提供10個元件動態可靠度的HTOL分析
- 此方案不含Dynamic Rdson、Vth、Vsd
◆ 量測溫度
- 室溫(Room Temp.)、高溫(High Temp.)
- 可調整範圍: 25°C - 175°C
◆ HTOL 量測時間與停止條件
- 量測時間以12小時為最小計價單位
- 停止條件設定：特定時間或特定動態Rdson阻值
◆ 依照使用者元件特性設計彈性量測條件
溫度、電壓、電流、頻率、Duty、Vgs、HTOL時間
多元件可靠度
動態量測進階方案
◆ 單次測試DUT數量
10 DUT/ per Test
◆ 靜態測試項目
同方案A, HTOL前、後各一次靜態量測
◆ 動態測試項目
- 同方案A, HTOL前後各一次室溫及高溫動態量測
- 提供10個元件動態可靠度的HTOL分析
◆ 量測溫度
- 室溫(Room Temp.)、高溫(High Temp.)
- 可調整範圍: 25°C - 175°C
◆ HTOL 量測時間與停止條件
- 量測時間以12小時為最小計價單位
- 停止條件設定：特定時間或特定動態Rdson阻值
◆ 依照使用者元件特性設計彈性量測條件
溫度、電壓、電流、頻率、Duty、Vgs、HTOL時間