確保GaN氮化鎵元件的穩定及可用性並加速GaN氮化鎵元件商業化的秘密武器
實現GaN氮化鎵元件等寬能隙半導體商業化的首要條件即是要確保元件的穩定與可用性，為此我們提供三套解決方案-封裝半導體元件動態參數分析儀、晶圓半導體元件動態參數分析儀與動態可靠度分析儀
實現寬能隙半導體GaN氮化鎵元件商業化的首要條件
Dynamic Rdson, Vth & Vsd是動態測試的三個重要關鍵參數，市面上現有的半導體參數分析儀提供了GaN氮化鎵元件在靜態下的Rdson、Vth、Vsd測試需求，但要如何得知在實際操作狀態下的動態Rdson、Vth、Vsd呢？花了大把時間設計的GaN元件，若無法得知操作狀態下的動態參數，又要如何確保元件上系統後的效果呢？要加速GaN的商業化、量產化，首先要確保元件的穩定及可用性。
如何確保寬能隙半導體GaN氮化鎵元件的穩定與可用性？
針對此一挑戰，我們提供三套解決方案，不只可在操作狀態下測試Dynamic Rdson, Vth & Vsd之外，還自帶溫控系統，可直接在系統上用高溫加速老化，進而評估GaN元件在真實系統上的生命週期：
三套專為GaN氮化鎵動態分析而製的分析系統
我們提供完整的寬能隙半導體元件動態測試系統，除了封裝元件、wafer-level GaN HV+HP動態量測之外，更有動態可靠度分析儀，輕鬆實現封裝、晶圓甚至多顆元件在操作狀態下測試Dynamic Rdson、Dynamic Vth、Dynamic Vsd等動態參數
封裝用：DDA8010半導體元件動態參數分析儀
晶圓用：WPDDA6505晶圓探測動態分析儀
WPDDA6505晶圓探測動態分析儀是DDL結合 MPI 探針台實現 wafer-level GaN HV + HP 動態量測，能自動或手動定位晶圓，並且內建溫控系統，在不同溫度下實現更有效率的晶圓動態量測。
可靠度用：DDRA8010元件動態可靠度分析儀
DDRA8010元件動態可靠度分析儀可以同時測試多個氮化鎵元件的動態特性，並利用高溫加速老化評估GaN元件在真實系統上的生命週期，更能確保元件的穩定及可用性。
實際測試影片
我們提供完整的元件動態測試系統，除了封裝元件、wafer-level GaN HV+HP動態量測之外，更有動態可靠度分析儀，輕鬆實現封裝、晶圓甚至多顆元件在操作狀態下測試Dynamic Rdson、Dynamic Vth、Dynamic Vsd等動態參數，實際測試影片！