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功率半導體_Gan_氮化鎵_動態測試
探索氮化鎵GaN功率半導體的先進動態分析解決方案
氮化鎵(GaN)等功率半導體在半導體產業中已成為不可或缺的材料,尤其是在高功率和高頻應用方面,如快充技術、電動車和數據中心等。GaN具備處理高電壓並提升能效的能力,徹底改變了電力電子領域。然而,GaN元件在不同操作條件下的動態特性分析仍面臨許多挑戰。
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HIOKI代理商_HIOKI台灣代理_堉宸科技.jpg
堉宸科技正式成為HIOKI經銷商/HIOKI台灣代理商
堉宸科技正式成為HIOKI台灣經銷商!! 透過提供高品質的測試與測量設備,我們致力於滿足客戶的需求,並提供專業技術支持,協助您在各行各業中提升產品性能。
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氮化鎵元件-動態代測-動態可靠度-GaN代測.jpg
[GaN代測] 正式開放代測! 氮化鎵GaN元件靜態/動態及動態可靠度測試代測服務
實現GaN氮化鎵元件等寬能隙半導體商業化的首要條件即是要確保元件的穩定與可用性,為此我們提供三套解決方案-封裝半導體元件動態參數分析儀、晶圓半導體元件動態參數分析儀與動態可靠度分析儀,並於2022年11月份正式開放提供代測服務,測試內容歡迎來信或來電洽詢!
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加速GaN氮化鎵元件商業化的秘密武器-封裝/晶圓半導體元件動態參數分析儀與可靠度分析儀
實現GaN氮化鎵元件商業化的首要條件即是要確保元件的穩定與可用性,為此我們提供三套解決方案-封裝半導體元件動態參數分析儀、晶圓半導體元件動態參數分析儀與動態可靠度分析儀
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堉宸科技網站上線囉!
氮化鎵 (GaN) 等全新功率半導體材料能夠支援大電壓和高切換速度,面對高功率元件高壓、高流的測試要求,堉宸科技獨家「元件動態參數分析儀(Device Dynamics Analyzer)」,來解決在元件操作(switching)狀態下執行氮化鎵(GaN)動態參數分析的困難,提供晶圓和封裝元件動態參數分析及可靠度測試。
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如何在功率半導體/寬能隙半導體材料-氮化鎵(GaN)操作(switching)狀態下執行動態測試?
本文要跟您分享我們的氮化鎵(GaN)動態參數分析儀(Device Dynamics Analyzer) 以及元件動態可靠度分析儀(Device Dynamic Reliability Analyzer)!
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COMPANY

關於我們

本公司專注於經營代理半導體設備、一般電子、網路、通訊、精密量測儀器設備之代理業務,主要產品為元件動態參數分析儀,可以幫助您有效解決在氮化鎵元件在操作狀態下執行動態參數分析的困難,同時也提供量測氮化鎵元件代測的服務。
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HIOKI_CM7290_顯示模組.jpg
CM7290 顯示模組
電流感測器用帶顯示的電源

- 為CT7600s、CT7700s供給電源、輸出信號
- 頻率和輸出率與測量值雙重顯示
- 可向數據採集儀和存儲記錄儀進行4種格式的輸出(波形、有效值、峰值、頻率)
- 3號鹼性電池/AC適配器/外部DC電源驅動

※僅有 CM7290 單機無法使用。需要與 CT7600s、CT7700s 組合使用。
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HIOKI_CM4141-50_AC_交流勾表_電流勾表.jpg
CM4141-50 AC交流電流勾表
- 優秀的易夾性,狹窄線間也可輕鬆進入測量的電流感測器
- 感測器截斷面最小尺寸 11 mm,易於深入線纜縫隙間的設計
- 交流專用、最大可測量至 2000 A
- 除了交流電壓,還具備電阻等豐富的測量功能
- 支援無線化!可將測量值傳送至智慧型手機或平板電腦(安裝無線適配器 Z3210 時)
- 將測量數據以無線方式直接傳送輸入至 Excel ® 表單(安裝無線適配器 Z3210 時)
- 可透過 GENNECT Cross 進行 1 次~ 30 次的諧波分析(安裝無線適配器 Z3210 時)
- CAT IV 600 V
CAT III 1000 V

(P2000使用時)
CAT III 2000 V
CAT IV 1000 V
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HIOKI_LR8513_無線勾式_DATA LOGGER.jpg
LR8513 無線勾式DATA LOGGER(資料收集器)
- 使用無線輕鬆採集各種數據,透過鉗形感測器簡單記錄負載電流/洩漏電流
- 用於測量交直流負載電流/交流洩漏電流(使用鉗形感測器)
- 可選電流感測器高達 8 種
- 放入配電箱中,即便關閉櫃門也能監測數據
- 設置電壓和功率因數後,能進行簡單的功率測量
- 放置空間要求低,小巧的 2ch
- 測量數據可透過 Bluetooth ® 無線技術傳輸至 LR8410 或 LR8410 特製品中
- 通訊中斷時也能保持測量數據
- 3WAY 電源(AC適配器、3號鹼性電池、外部電源5V~13.5V)
- 存儲容量每1通道50萬個數據


LR8513主機無法單獨測量。
無線通訊對應國家:Taiwan, Australia, Austria, Belgium, Bulgaria, Canada, Chile, Colombia, Croatia, Cyprus, Czech Republic, Denmark, Estonia, Finland, France, Georgia, Germany, Greece, Hong Kong, Hungary, Iceland, Indonesia, Ireland, Israel, Italy, Japan, Kenya, Latvia, Liechtenstein, Lithuania, Luxembourg, Macao, Malta, Myanmar, Netherlands, New Zealand, Norway, Poland, Portugal, Romania, Singapore, Slovakia, Slovenia, Spain, Sweden, Switzerland, Thailand, Turkey, United Kingdom, United States, Viet Nam
※Bluetooth®是Bluetooth SIG,Inc.的註冊商標,授權日置電機使用。
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HIOKI_CM4371-50_直流_交流勾表_電流勾表.jpg
CM4371-50 AC/DC電流勾表
- 搭載高安全性+高機能DMM | 交流・直流勾表 600 A
- 自動判斷交流/直流
- 太陽能面板的開路電壓維保最高可測量至DC2000V(※1)
- 同時顯示啟動電流(INRUSH)的真有效值和波形峰值
- 防塵防水性能:IP54
- 支援無線化!可將測量值傳送至智慧型手機或平板電腦(安裝無線適配器Z3210時)
- 將測量數據以無線方式直接傳送輸入至Excel® 表單 (安裝無線適配器Z3210時)
- 可透過GENNECT Cross進行1次~30次的諧波分析(安裝無線適配器 Z3210 時)
- CAT IV 600 V
CAT III 1000 V

(P2000使用時)
CAT III 2000 V
CAT IV 1000 V

※1 必須搭配選件的直流高壓探頭P2000。主機僅可測量至DC1000 V。
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HIOKI_CM4373-50_直流_交流勾表_電流勾表.jpg
CM4373-50 AC/DC電流勾表
- 搭載高安全性+高機能DMM | 交流・直流勾表 2000 A
- 自動判斷交流/直流
- 進行太陽能面板的開路電壓維修保養時,最高可測量至DC2000 V(使用P2000時)
- 同時顯示啟動電流(INRUSH)的真有效值和波形峰值
- 支援無線化!可將測量值傳送至智慧型手機或平板電腦(安裝無線適配器Z3210時)
- 將測量數據以無線方式直接傳送輸入至Excel® 表單 (安裝無線適配器Z3210時)
- 可透過GENNECT Cross進行1次~30次的諧波分析(安裝無線適配器 Z3210 時)
- CAT IV 600 V
CAT III 1000 V

(P2000使用時)
CAT III 2000 V
CAT IV 1000 V
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HIOKI_IM3536_LCR_meter_8MHz.jpg
IM3536 LCR meter (LCR測試儀)
DC,4Hz~8MHz測量頻率

- 測量頻率DC,4Hz~8MHz
- 測量時間:最快1ms
- 基本精度:±0.05% rdg
- 1mΩ以上的精度保證範圍,也可安心進行低阻測量
- 可內部發生DC偏壓測量
- 從研發到生產線皆可活用在各種領域中
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HIOKI_IM3533_LCR_meter_阻抗分析儀.jpg
IM3533 LCR meter
應用覆蓋線圈&變壓器生產到研發等諸多領域

- 基本精度 ±0.05%,測量範圍廣(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)。
- 在例如 C-D 和 ESR 這樣的混合測量條件下,不間斷測試,速度是我司以往產品的 10 倍。
- 內置的低阻抗高精度模式可有效測量低感應或鋁電解電容的等效串聯電阻。
(測量速度是以往產品 3522-50 的 10 倍,大大提高了反復性和穩定性)
- 專用模式,用於測量變壓器線圈比率,互感係數和溫度補償 DCR。
- 頻率掃描測試(僅 IM3533-01)
- 除標準 0m/1m 以外的 2m/4m 電纜設置。
- 內置比較器和 BIN 功能。
- 2 ms 的快速測試時間
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HIOKI_IM3523A_LCR_meter_阻抗分析儀.jpg
IM3523A LCR meter
應用於生產線和自動化測試領域的理想選擇

- 基本精度±0.05%,測量範圍廣(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
- 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下,可以以往產品10倍的速度不間斷測試。
- 內置比較器和BIN功能
- 2ms的快速測試時間
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服務項目

半導體設備販售
1.元件動態參數分析儀(Device Dynamics Analyzer)
2.半導體靜態參數分析儀(Device Statics Analyzer)
3.晶圓探測動態分析儀(Wafer Probing Device Dynamics Analyzer)
2.元件動態可靠度分析儀(Device Dynamic Reliability Analyzer)

 氮化鎵元件代測服務
1. 動態量測基礎方案
2. 動態量測進階方案
3. 多元件可靠度動態量測基礎方案
4. 多元件可靠度動態量測進階方案
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